KC-3130 热阻&热特性智能检测系统采用 4 工位同步采样架构，搭载 120A/15V 独立加热电源与最高 1MHz 连续变频采样技术，支持 SAT、MOS_Diode、Body_Diode、Rds_on 四种测试模式。系统配备 JULABO 高精度硅油温控设备（温度稳定性 ±0.01℃），可完成从器件加热、结温降曲线采集，到基于 3~16 阶 Foster 模型的 Zth 瞬态热阻抗拟合，以及结构函数、微分结构函数、局域结构函数的完整热特性分析输出，是功率器件研发验证、可靠性筛选与产线热测试的理想设备。

【核心功能】

一、瞬态热阻测试

1. 支持 SAT / MOS_Diode / Body_Diode / Rds_on 四种测试模式；

2. 每个 采样工位包含 1 路 NTC/PTC 热敏器件测试通道，可在各温度点检测 NTC/PTC 电压并进行电压-温度拟合；

3. NTC 测量范围 100Ω～250kΩ，PTC 支持 PT100、PT1000，最高采样频率 1MHz，同步时间误差 ≤0.1μs；

4. 电流切换与数据采集时间同步误差 ≤1μs；

5. 支持加热区数据瞬态采集，最大 1MHz 采样速率采集电压瞬态数据并实时显示；

6. 加热和降温时间支持软件配置，集成软件可配置阈值的过压保护功能。

二、数据处理和输出

1. 输出器件热稳定后的加热功率；

2. 输出原始升温和降温数据点及拟合后的降温曲线；

3. 基于贰～16 阶 Foster 模型的 Zth 拟合结果，输出模型 Rth、Cth 参数，并显示拟合模型 Zth 与实测 Zth 对比图；

4. 输出结构函数、微分结构函数、二次微分结构函数、局域结构函数；

5. 输出加热区电压瞬态响应曲线；

6. 所有结果包含时序同步的结温与模块内部 NTC/PTC 瞬态数据，加热和降温过程数据支持内部局域网实时传输，被授权终端可实时显示并下载。

三、K 系数标定

1. 4 个工位支持同时进行 K 系数测试；

2. 最高加热温度小于等于 180℃；

3. 支持设置标定温度点，通过通讯方式触发温控设备到达指定温度后自动完成测试；

4. 拟合形式不限于线性拟合，支持 2 次、3 次及指数形式，并可升级扩展；

5. 自动输出各通道 K 系数拟合结果、R² 值及标定全过程数据记录（温度、电压变化曲线）。

【技术规格】

整体规格：

1. 测试标准：符合 JESD 51-1、JESD 51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60747-34、AEC-Q101、AQG324 等相关标准要求；

2. 加热电源：单通道 120A/15V 加热电源；

3. 测试工位：4 个采样工位，可用于 K 系数标定及瞬态热阻测试，所有工位可同时采集数据，搭载连续数据采样技术，最高 1MHz。

加热电源：

1. 规格型号：120A/15V 独立电源；

2. 电流输出误差：≤0.1% + 0.1%FS；

3. 电流设定分辨率：1mA。

测试电流 Is：

1. 输出范围：±100mA/10V ～ ±1000mA/10V；

2. 分辨率：1mA；

3. 误差：≤2mA + 0.5%set。

栅极电压（每个采样工位配 1 个栅极/门控电源，共 4 路）：

1. 输出方式：隔离输出；

2. 输出范围：-10V ～ 20V；

3. 输出误差：≤0.1V + 0.5%set；

4. 分辨率：0.01V。

栅极漏电流测量：

1. 测量范围：1nA～850nA / 850nA～1mA；

2. 分辨率：0.01nA / 0.01μA；

3. 通道数量：4。

测量通道：

1. 动态电压测量范围：±5V（差分模式）；

2. 动态量程：100mV、200mV、400mV、800mV；

3. 动态分辨率：1.6μV；

4. 采样方式：连续变频采样；

5. 采样频率：最高 1MHz 同步采集；

6. 温度采集精度：0.01℃。

温控系统：

1. 温控形式：JULABO 温控设备（硅油）；

2. 温度范围：-40℃ ～ 180℃；

3. 显示分辨率：0.01℃；

4. 温度稳定性：±0.01℃；

5. 温度稳定判据：回采温度允许变化值及回采温度与设置值允许偏差均可设置（最小 0.1℃）；

6. 保护功能：漏液检测和报警、低油位报警。

测试平台：

1. 台架：全封闭结构（含操作台与主机防护柜），440mm 铝合金型材框架；

2. 温控水冷机：JULABO 高精度控温水冷机（硅油），温度稳定性 ±0.01℃；

3. 测试用冷板：20×30cm 标准尺寸冷板。

软件系统：

1. 设备控制软件：内置；

2. 测试结果分析软件：包含测试结果展示、结构函数输出等功能。

【适用对象】 被测对象为包含功率器件以及冷却结构或其他结构的总成产品，包括但不限于：IGBT 模块、SiC MOSFET 功率模块、GaN 器件、功率半导体单管、AI 服务器电源模组、新能源汽车电驱功率模块等。

【常见问题（FAQ）】

问：KC-3130 功率器件热阻测试仪符合哪些测试标准？ 答：KC-3130 符合 JESD 51-1、JESD 51-14、IEC 60747 系列、IEC 60749-23、AEC-Q101、AQG324 等功率器件热测试国际标准，可直接用于车规级及工业级功率器件的热阻测试与可靠性验证。

问：KC-3130 能测哪些功率器件？ 答：KC-3130 适用于 IGBT、SiC MOSFET、GaN 等功率半导体器件及功率模块的瞬态热阻测试，尤其适合包含冷却结构的总成产品，广泛服务于新能源汽车、AI 服务器电源、光伏储能等行业。

问：KC-3130 的采样精度如何？ 答：KC-3130 搭载连续变频采样技术，最高 1MHz 同步采样，动态电压分辨率达 1.6μV，温度采集精度 0.01℃，电流切换与数据采集同步误差 ≤1μs，可精准捕获功率器件结温瞬态变化曲线。