功能简介

设备简介KC3111功率半导体高精度静态特性测试系统（面向工厂生产端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模块以及车规级模块的新兴要求而进行的一次高标准产品开发。脉冲信号源输出方面，高压源标配2000V（选配3.5KV）,高流源标配1KA（选配4KA多模块并联）,栅极电压30V。采用多量程设计架构，各量程下均可保证0.1%精度，具有uΩ级精确测量，pA 级漏电流测量能力。全自动程控软件，图型化上位机操作界面。内置开关切换矩阵保证测试效率。模块化结构设计预留升级扩展潜能。测试接口可外挂各类夹具和适配器，还能够通过专用接口连接各种Handler：如分选机、机械手、探针台、编带机等。