功能简介

现代宽禁带功率器件 (SiC, GaN) 上的开关晶体管速度越来越快，使得测量和表征成为相当大的挑战。AQG 324特别突出了功率循环试验，在整个SiC-MOSFET寿命试验相关内容中，功率循环试验不仅被列为首项，且占据的篇幅超过其他所有试验项目之和。