金凯博KC- 3130 SiC-MOSFET功率循环测试Power Cycling TEST&热特性智能检测系统
了解更多金凯博KC-3130高精度大电流PCT测试系统中可同时秒级功率循环和分钟级功率循环测试，整体架构模块化，通讯协议、通讯接口等采用统一标准，便于后期扩展和维护。在保证系统稳定运行的同时，可快速满足功率半导体可靠性测试需求。 参考标准: JEDEC、MIL-STD-750E、GJB128A、AEC-Q101、IEC60747- 2/6 ch. IV、IEC60747-9、JESD51-14
