首页
关于金凯博
公司介绍
公司资质
集团架构
员工风采
产品中心
吉时利(Keithley)
泰克(tektronix)
费思
Pem
德图(Testo)
Pendulum
新闻资讯
公司新闻
行业动态
解决方案
行业解决方案
产品解决方案
FCT测试
新能源测试
半导体解决方案
资源下载
联系我们
400-1818-170
搜索您想找的
您现在的位置:首页 / 行业动态 返回
Pendulum快速3DEMC/EMI扫描系统与Tektronix 频谱分析仪
来源:金凯博集团 发布时间:2022-07-15 类别:行业动态
信息摘要:

Detectus 3D EMI电磁辐射扫描机配合使用泰克RSA306B实时便携式频谱分析仪。

Detectus 3D EMI电磁辐射扫描机配合使用泰克RSA306B实时便携式频谱分析仪。

客户解决方案总结

挑战:

Eggtronic公司在对其设计布局的EMI发射行为进行建模以优化设计布局方面面临挑战。在电路板上应用正确的去耦电容器的影响严格取决于此。这需要大量的建模和重新测试,测试时间也在迅速增长,设计成本也在不断增加。

解决方案:

Detectus 3D EMI电磁辐射扫描机配合使用泰克RSA306B实时便携式频谱分析仪。

效益:

Detectus 3D扫描机允许对电路板电磁辐射进行高分辨率的3D建模;Tektronix RSA306B频谱分析仪的组合实现了极快的扫描程序,而不会影响频率扫描范围和频率分辨率

设计工程师要解决的一个关键问题是洞察其设计的电磁性能,以便遵守符合标准规范,了解辐射和潜在干扰。这对于开关电源设计和AC/DC和DC/DC转换器尤其适用。

随着宽带隙器件的广泛采用(如GaN和SiC),电源正转向更快的高压和大电流开关波形,这些波形在传导和辐射发射中产生电磁干扰(EMI)。

•      工程师如何将EMI辐射抑制在标准可接受限制值以下?

•      他们如何证明他们的设计技术是有效的?

•      他们如何找到并了解噪声源(例如,不仅定位噪声源,而且识别设计板上发生的所有耦合机制)?

•      寄生电容和电流回路将如何改变电路设计图?

•      工程师如何知道他们的修正是否有效?他们如何证明选择的去耦电容器的尺寸是正确的?他们如何测试自己设计的电感既有效又不影响电路板的关键区域

1

图1. 从Pendulum EMC扫描仪应用软件获得的重叠三维辐射图

2

图2. EMC扫描仪移动近场探头对贴近被测物表面等距进行3D3D辐射扫描

意大利Eggtronic公司是一家致力于创新电力电子解决方案的高新企业,所有类似企业中的设计工程师每天都要处理这一类问题。

Eggtronic的首席技术官恩里科•丹特(Enrico Dente)表示,EMC是开关电力电子新设计面临的主要挑战之一。

3

图3. 泰克RSA306B是处理采集数据的核心频谱分析系统

“我非常热衷于使用Pendulum提供的先进3D EMI测量技术来测试我们最新的实验室原型机。我们测试的电路板是一种隔离的AC-DC变换器,基于Eggtronic的无变压器专利技术,在MHz频率以上有效工作,这要归功于GaN器件和我们专有的电路拓扑结构。通过分析使用EMCEMC电磁兼容3D扫描仪测量分析3D扫描仪测量分析,我们可以深入了解在哪些频率和哪些位置有EMI干扰,我们可以在EMI排放方面改进产品设计。”

“很明显,测量工程师很清楚需要进行3D EMC扫描,以便在空间中绘制出电感周围辐射干扰的区域。3D扫描可以可视化显示整个辐射路径的关键临界频率,并评估使用正确的去耦电容器来消除影响。” 里科•丹特(Enrico Dente)说道。

他们目前使用Pendulum EMC 3D扫描仪扫描仪与Tektronix RSA306B实时便携式频谱分析仪相结合的解决方案。

客户需要以1mm甚至0.1mm的空间分辨率进行重复的扫描测量。根据使用的频率扫描范围和分辨率频率,在一个相对较大的板上运行这些测试是非常耗时的

“如果用普通的频谱分析仪进行的每一项测试都有持续时间过长的风险。对于电路板的每一点分析,都需要在整个频谱上完成采集,并将采集的数据传输到笔记本电脑上进行处理,”Enrico Dente说。

“为了避免长时间采集,最好的配套频谱分析仪是泰克公司的RSA306B频谱分析仪。该仪器非常灵活,体积小,成本合理,但其真正的优点是实时采集速度快。这允许快速收集数据,以便在合理的时间内进行全面扫描,并在必要时进行重复扫描,以便立即看到我们设计修正的效果。” Enrico Dente说

据Pendulum首席技术官Jan Eriksson介绍,泰克RSA306B可以无缝集成到他们的3D扫描系统中。“即使在要求的分辨率带宽很小的情况下,它在大频率范围内的扫描时也是快速和可靠的。这使得我们的客户可以在最小化3D扫描的测试时间与任何频率扫描分辨率方面达到平衡。这也缩短了测量时间,并为分析获得的数据留出了更多的时间。