在半导体功率器件（如IGBT、SiC、GaN）的研发与量产测试中，功率循环测试是评估器件可靠性的关键环节。如何选择一款高精度、高效率、高稳定性的测试设备，直接影响产品的寿命预测和市场竞争力。

金凯博KC-3130功率循环测试系统，专为车规级（AEC-Q101）、工业级（JEDEC）及第三代半导体（SiC/GaN）测试需求打造，提供全自动化、高精度、可扩展的测试解决方案，助力企业提升测试效率，降低研发成本！

为什么选择金凯博KC-3130？

1. 高精度控制，满足严苛测试标准

温度控制精度±0.5°C，支持红外热像仪+热电偶双校准，确保结温（Tj）测量准确

电流/电压测量误差≤±0.5%，采用四线法测量，消除导线电阻影响

符合JEDEC JESD22-A104、AEC-Q101、IEC 60747-9等国际标准

2. 大功率范围，覆盖主流功率器件

电流输出：0-3000A（可定制更高），满足IGBT模块、SiC MOSFET、GaN HEMT测试需求

电压范围：0-4500V，适配车规级、光伏、工业电源等高压应用

3. 全自动化测试，提升效率

多通道并行测试（支持8-16通道），大幅缩短测试周期

智能失效判定，实时监测Ron、热阻、栅极漏电等关键参数

一键生成报告，支持MES系统对接，实现数据可追溯

4. 模块化设计，灵活扩展

支持液冷/风冷温控，适应不同ΔT测试需求（-40°C~+250°C）

可搭配双脉冲测试（DPT）功能，同步评估动态特性

开放式API接口，支持Python/LabVIEW二次开发

功率循环测试系统典型应用场景

✅ 车规级功率模块（AEC-Q101认证）

✅ SiC/GaN器件可靠性评估

✅ 光伏逆变器、工业电机驱动测试

✅ 高校/研究所功率器件寿命研究